X-RAY XDAL
製品概要
蛍光X線膜厚測定器
| 用途 | ・0.1µmからの薄膜分析 ・電子部品産業・半導体産業における機能膜の測定 ・多層膜の測定 ・品質管理における自動測定 |
|---|
| 特徴 | ・X線検出器に、半導体検出器(PIN)搭載のXDAL237、シリコン・ドリフト検出器(SDD)搭載のXDAL237SDDをラインナップ ・プログラム機能付き電動式XYステージ搭載 ・ハウジングに細い開口部(Cスロット)があり、大きな板状のサンプルも測定可能 ・4種類のコリメーターと3種類のプライマリフィルターを搭載しており汎用性の高い機種 |
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| メーカー名 | 株式会社フィッシャー・インストルメンツ |
| メーカーURL | https://www.helmutfischer.jp/product/xdal/ |
| 使用方法他 | 製品カタログご参照ください。 |
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