X-RAY XDV-SDD（分析・測定機器・試験機他）株式会社三工商会

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ホーム商品検索分析・測定機器・試験機他X-RAY XDV-SDD

X-RAY XDV-SDD

製品概要

蛍光Ｘ線膜厚測定器

用途	・極薄膜や多層膜の検査（電子・半導体産業など）・スクリーニング分析（RoHS,玩具,包装材基準のための有害物質検査など）・NiPの組成分析,厚さ測定

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製品カタログ

特徴	・シリコン・ドリフト・ディテクター（ＳＤＤ）をＸ線検出器に採用・プログラミング可能なXYステージを装備・大型でアクセス性のよい測定チャンバ（クローズドチャンバ―タイプ）・自社開発により進化を遂げたデジタルパルスプロセッサー「DPP＋」を搭載し、優れたエネルギー分解能と短時間測定に貢献します。
メーカー名	株式会社フィッシャー・インストルメンツ
メーカーURL	https://www.helmutfischer.jp/product/xdv-sdd/
使用方法他	製品カタログご参照ください。

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