株式会社ミツトヨ

SURFTEST SJ-220シリーズ

概要	小型表面粗さ測定機
用途	表面粗さ測定

株式会社ミツトヨ

SURFTEST Extreme SV-3000 CNC

概要	CNC表面粗さ測定機
用途	表面粗さ測定

株式会社ミツトヨ

FORMTRACER Avant S3000

概要	表面粗さ測定機
用途	表面粗さ測定

株式会社山本鍍金試験器

B-72WJ

概要	スパイラル応力計（JIS準拠）
用途	めっき皮膜の内部応力を測定

株式会社山本鍍金試験器

B-72W1-YTC300

概要	スパイラル応力計（JIS/ASTM準拠）
用途	めっき皮膜の内部応力を測定

株式会社フィッシャー・インストルメンツ

COULOSCOPE® CMS2

概要	電解式（電量分析式）の破壊式膜厚計
用途	鉄上の亜鉛や銅上のSn/Niなど単層あるいは多層皮膜の金属皮膜について電解式による膜厚を測定

株式会社ケツト科学研究所

L-600 Standard / Expert

概要	プローブ型膜厚計
用途	磁性金属上の非磁性被膜または非磁性金属上の絶縁被膜の膜厚測定

株式会社ケツト科学研究所

L-500

概要	プリンタ内蔵のプローブ型膜厚計
用途	磁性金属上の非磁性被膜または非磁性金属上の絶縁被膜の膜厚測定

株式会社ケツト科学研究所

LZ-990「エスカル」

概要	デュアルタイプ膜厚計
用途	磁性金属上の非磁性被膜,および非磁性金属上の絶縁被膜の膜厚測定

株式会社フィッシャー・インストルメンツ

DMPシリーズ

概要	渦電流式ハンディ型膜厚計
用途	渦電流式（DIN,EN,ISO,2360）で,アルミや銅などの非磁性金属を素地とする塗装やアルマイト,アルミ上のクロムや無電解ニッケル（条件付き）といった絶縁皮膜の測定

株式会社サンコウ電子研究所

SWT-NEOⅡ/NEOⅢ

概要	デュアルタイプ膜厚計
用途	塗装,/,ライニング,/,メッキ,/,アルマイトなどの絶縁性皮膜の膜厚測定

株式会社ミツトヨ

SURFTEST SJ-310シリーズ

概要	小型表面粗さ測定機
用途	表面粗さ測定

株式会社山本鍍金試験器

A-30-01 ～ A-30-05

概要	めっき用ボーメ
用途	液体の濃度（比重）を測定

株式会社フィッシャー・インストルメンツ

MP0Rシリーズ

概要	超小型デュアル式膜厚測定器
用途	電磁式・渦電流式,自動切替で皮膜の厚みを測定

株式会社山本鍍金試験器

分析器及び分析用試薬

概要	各種測定分析器及びその試薬
用途	めっき液中の主成分を測定

株式会社ミツトヨ

HARDMATIC HH-300シリーズ

概要	スポンジ・ゴム・プラスチック用硬度計
用途	スポンジ・ゴム・プラスチック用硬度計

株式会社ミツトヨ

HARDMATIC HH-411

概要	反発式ポータブル硬度計
用途	リーブ硬さHL値（L値：ASTM,A,956による）を基に,ビッカース,ブリネル,ロックウェルC,ロックウェルB,ショアの各硬さ,および引張強さへ換算が可能

株式会社ミツトヨ

HR-210MR

概要	ロックウェル硬さ試験機
用途	ロックウェル硬さ測定

株式会社ミツトヨ

HM-100シリ−ズ

概要	マイクロビッカ−ス硬さ試験機
用途	ヌープ硬さとビッカース硬さの測定 ※ヌープ硬さの測定には,アクセサリ（オプション）のヌープ圧子が必要です。

日本カノマックス株式会社

アネモマスター風速計 Model 611シリーズ

概要	風速計（風温・圧力も測定可能）
用途	風速・風温・圧力の測定

日本カノマックス株式会社

クリモマスター風速計 Model 6501シリーズ

概要	多機能型携帯風速・風量計
用途	風速,風温,湿度,圧力などの測定が可能

東亜ディーケーケー株式会社

HM-40P

概要	ポータブルpH・ORP・イオン計
用途	pH,/,ORP,/,イオンの測定

省エネ

東亜ディーケーケー株式会社

MM-42DP(2chタイプ)/ MM-41DP(1chタイプ)

概要	ポータブルマルチ水質計2chタイプと1chタイプ
用途	pH,/,ORP,/,電気伝導率,/,光学式溶残酸素の測定

東亜ディーケーケー株式会社

WQC-40

概要	ポータブル多項目水質計
用途	多項目の水質測定に対応 ・pH,/,電気伝導率,/,濁度,/,温度,/,塩分,/,TDS,/,海水比重 ・オプション・・・溶残酸素,/,ORP,/,イオン,/,水深

株式会社山本鍍金試験器

A-30-06 ～ A-30-08

概要	パーセントボーメ
用途	液体の容量％又は重量％を測定

株式会社サンコウ電子研究所

SWT-NEO

概要	デュアルタイプ膜厚計
用途	塗装,/,ライニング,/,メッキ,/,アルマイトなどの絶縁性皮膜の膜厚測定

株式会社フィッシャー・インストルメンツ

X-RAY XDV-SDD

概要	蛍光Ｘ線膜厚測定器
用途	・極薄膜や多層膜の検査（電子・半導体産業など） ・スクリーニング分析（RoHS,玩具,包装材基準のための有害物質検査など） ・NiPの組成分析,厚さ測定

株式会社フィッシャー・インストルメンツ

X-RAY XDAL

概要	蛍光Ｘ線膜厚測定器
用途	・0.1µmからの薄膜分析 ・電子部品産業・半導体産業における機能膜の測定 ・多層膜の測定 ・品質管理における自動測定

株式会社中央製作所

TH-11

概要	電解式めっき厚さ測定器
用途	めっきの品質管理

株式会社フィッシャー・インストルメンツ

X-RAY XULM

概要	蛍光Ｘ線膜厚測定器
用途	・コネクターや接点の多層コーティング層測定 ・量産部品のねじやナットの防蝕メッキ,Zn/FeやZnNi/Feなどの電気メッキ皮膜 ・貴金属などの鑑定

株式会社中央製作所

ED-3

概要	膜厚計用多層ニッケル耐食性測定装置
用途	多層ニッケルめっき耐食性測定装置